成功加入购物车
[日] 进藤大辅 、 平贺贤二 著 / 冶金工业出版社 / 1998-08 / 平装
售价 ¥ 288.00
品相 九五品
优惠 满包邮
延迟发货说明
上书时间2024-01-12
卖家超过10天未登录
材料评价的高分辨电子显微方法
本书介绍了高分辨电子显微方法的原理,解释了像的衬度与原子排列的对应关系,给出了像计算的具体步骤;叙述了高分辨电子显微像的种类及其具体的拍摄方法;强调了获得最佳拍摄条件的重要性,讨论了最佳条件拍摄的注意事项以及试样厚度和离焦量等对象衬度的影响。本书用较大的篇幅介绍了该方法在材料评价中的应用,叙述的重点是各种晶格缺陷和每种材料的结构特征,介绍了它们观察方法和对象的解释。作为相关技术,本书叙述了图像处理,以及采用新的记录载体进行了定量解析。另外,对电子衍射和弱束方法,以及用于高分辨电子显微方法的各种试样制备技术做了概述。
本书可供电子显微学工作者、材料研究人员和大专院校有关专业的师生阅读参考。
第1章高分辨电子显微方法的基础1.1透射电子显微镜的原理1.2电子散射和傅里叶变换1.3高分辨电子显微像的形成1.3.1薄膜试样的高分辨电子显微像1.3.2电子显微镜的分辨率1.3.3厚度样的高分辨电子显微像1.4高分辨电子显微像的计算机模拟1.4.1程序的构成和输入的参数1.4.2在考虑晶格缺陷和吸收时的计算模拟1.4.3程序的检查参考文献第2章高分辨电子显微方法的实验2.1高分辨电子显微像的种类2.1.1晶格条纹2.1.2一维结构像2.1.3二维晶格像2.1.4二维结构像2.1.5特殊的像2.2高分辨电子显微镜观察2.2.1像观察前的注意事项2.2.2像观察前的注意事项2.2.3拍摄像的选择2.2.4像解释时的注意事项2.2.5高分辨电子显微镜观察的练习参考文献第3章高分辨电子显微方法的应用3.1晶格缺陷、表面和界面的高分3.1.1位错3.1.2晶界和相界面3.1.3表面3.1.4其他结构缺陷3.2各种物质的高分辨电子显微像3.2.1陶瓷3.2.2超导氧化物3.2.3有序合金3.2.4准晶参考文献第4章高分辨电子显微方法的周边技术4.1图像处理4.1.1高分辨电子显微像的输入和输出4.1.2高分辨电子显微像图像处理的实践4.2定量解析4.2.1新记录系统的原理4.2.2新的图像记录系统的特性4.2.3用残差指数解析高分辨电子显微像4.3电子衍射方法4.3.1电子衍射方法的基础4.3.2电子衍射方法的实际操作4.3.3各种结构及其电子衍射花样的特征4.4弱束方法4.4.1弱束方法的原理和特点4.4.2弱束像的观察程序4.5电子显微镜性能的评价4.5.1电子显微镜基本参数的评价4.5.2电子显微镜分辨率的评价4.6试样制备方法4.6.1粉碎方法4.6.2电解减薄方法4.6.3化学减薄方法4.6.4超薄切片方法4.6.5离子减薄片方法4.6.6聚焦离子束方法4.6.7真空蒸涂方法参考文献附录附录1物理常数、换算系数和电子波长等附录2晶体几何学关系……参考文献索引
展开全部
配送说明
...
相似商品
为你推荐
开播时间:09月02日 10:30