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李华伟 、郑武东、温晓青、赖李洋、 叶靖 、 李晓维 / 清华大学出版社 / 2024-06 / 平装
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上书时间2026-05-25
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数字集成电路测试——理论、方法与实践
本书全面介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与eda实践。章为数字集成电路测试技术导论,第2~9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和oc测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术,0章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术,1章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 针对每一种数字集成电路测试技术,本书一方面用示例讲述其技术,另一方面用电子设计自动化(eda)的商业工具对具体实例演示技术应用过程(eda工具应用脚本及其说明可在配套资源中下载),并在每章后附有题。通过本书,读者一方面可以学到基本的测试理论和相关技术;另一方面,还可以对当今芯片设计流程和eda工具链中测试技术的运用和实践有所了解。 本书适合作为高等院校集成电路、计算机科学与技术、电子科学与技术等相关专业高年级本科生、教材,也可供集成电路设计与测试行业的开发人员、广大科技工作者和研究人员参。
章数字集成电路测试技术导论
1.1集成电路芯片开发过程中的测试问题
1.1.1超大规模集成电路芯片的开发过程
1.1.2设计验证
1.1.3芯片测试
1.2测试技术基础
1.2.1故障模型
1.2.2测试生成简介
1.2.3可测试设计简介
1.3测试技术与eda
1.4本章小结
1.5题
参文献
第2章故障模拟
2.1简介
2.1.1逻辑模拟在测试中的作用
2.1.2故障模拟在测试中的作用
2.2模拟的基本概念
……
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开播时间:09月02日 10:30