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樊融融 著 / 电子工业出版社 / 2012-04 / 平装
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现代电子机械工程丛书·“十二五”国家重点出版规划精品项目:现代电子装联工艺可靠性
电子产品的工艺可靠性问题,存在于产品在工厂生产和市场服役的全过程。《现代电子机械工程丛书·“十二五”国家重点出版规划精品项目:现代电子装联工艺可靠性》的作者从事电子装联工艺及其装备等技术研究整50年,深感电子制造中的工艺可靠性问题,随着微组装和微焊接技术应用的日趋广泛和深入而愈显突出。因此,加强电子装联工艺工程师们对工艺可靠性基础理论的掌握和技术素质的提升,是关系到一个公司的产品实施“低成本、优质、可靠”战略的关键一环,编著本书的出发点就是在不断发展的现代电子产品制造中,当面对形形色色的缺陷和故障现象时,能为他们提供技术支持。
本书适合广大从事电子产品制造的工艺工程师、质量管理工程师、材料技术工程师、生产现场管理工程师及用户服务工程师等技术人员阅读和借鉴。
第1章现代电子装联工艺可靠性概论1.1电子设备可靠性的基本概念1.1.1电子设备可靠性问题的产生1.1.2电子设备可靠性的定义与数学描述1.1.3可靠性准则1.1.4可靠性的数量特征1.2现代电子装联工艺可靠性1.2.1电子装联工艺的变迁和发展1.2.2现代电子装联工艺可靠性问题的提出1.2.3现代电子装联工艺可靠性的研究对象和现实意义第2章影响现代电子装联工艺可靠性的因素2.1概述2.1.1现代电子装联工艺可靠性的内涵2.1.2现代电子装联焊接过程中的缺陷现象2.1.3应用中焊点可靠性的蜕变现象2.2电子元器件电极表面状态对互连焊接可靠性的影响2.2.1从可靠性看对电子元器件引脚材料的技术要求2.2.2电子元器件引脚用材料对焊接可靠性的影响2.2.3引脚的可焊性涂层对焊接可靠性的影响2.3PCB焊盘涂层对焊接可靠性的影响2.3.1PCB常用可焊性涂层的特性描述2.3.2目前国内外电子业界在PCB镀层的应用情况和评价2.3.3综合提升PCB镀层可焊性和抗环境侵蚀能力对改善工艺可靠性的现实意义2.3.4Im-Sn+重熔工艺在恶劣环境下改善抗腐蚀能力和可焊性的机理2.4镀层可焊性的储存期试验及试验方法2.4.1储存期对可焊性的影响2.4.2加速老化处理试验第3章焊接界面合金层的形成及其对焊点可靠性的影响3.1焊接界面3.1.1焊接界面的物理状态3.1.2界面合金层的形成3.1.3影响合金层生长的因素3.2IMC对焊点可靠性的影响3.2.1IMC对焊接连接的意义3.2.2IMC状态对焊点可靠性的影响3.2.3IMC厚度对焊点可靠性的影响3.2.4IMC微组织结构对焊点可靠性的影响第4章环境因素对电子装备可靠性的影响及工艺可靠性加固4.1在环境作用下电子产品性能的变化4.1.1湿度的影响4.1.2热和冷的影响4.1.3大气压力的影响4.1.4日光、灰尘和沙粒的影响4.2大气中腐蚀性元素和气体对电子装备可靠性的影响4.2.1大气中腐蚀性元素和气体的种类及其容许的浓度4.2.2大气腐蚀4.2.3在天然水介质中的腐蚀4.2.4接触腐蚀4.2.5离子迁移现象的机理及其对可靠性的危害4.3金属镀层的腐蚀(氧化)对可靠性的危害4.3.1金属腐蚀的定义4.3.2腐蚀介质的分类4.3.3引脚基体金属和镀层间的电化学腐蚀现象4.3.4非金属及金属的接触偶电极电位对可靠性的潜在影响4.4工艺可靠性加固措施4.5免清洗助焊剂在应用中的隐患4.5.1助焊剂残余物的潜在危险性4.5.2助焊剂残余物的分类及其对可靠性影响的预防第5章影响电子产品在服役期间的工艺可靠性问题5.1产品服役期的工艺可靠性5.1.1概述5.1.2影响产品制造缺陷的工艺可靠性问题5.1.3影响市场服役期故障的工艺可靠性问题5.2金属偏析现象5.2.1偏析的定义及分类5.2.2偏析对焊点可靠性的影响5.2.3焊接过程中Pb偏析形成机理5.2.4抑制焊点出现偏析的措施5.3黑色焊盘现象5.3.1黑盘现象5.3.2黑盘现象的形成机理5.3.3有关“黑盘现象”隐患的背景资料5.4Au脆现象5.4.1Au脆现象的发现……第6章理想焊点的质量模型及其影响因素第7章有铅和无铅混合组装的工艺可靠性第8章电子产品无Pb制程的工艺可靠性问题第9章波峰焊接焊点的工艺可靠性设计第10章SMT再流焊接焊点的工艺可靠性设计第11章PCBA常见的危及可靠性的故障现象及其分析第12章PCBA焊点失效分析第13章工艺可靠性试验参考文献
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开播时间:09月02日 10:30