一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析
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正版全新
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作者:
张晶威
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出版社:
清华大学出版社
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ISBN:
9787302589235
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ISBN:
9787302589235
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出版时间:
2022-01
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4.5折
定价
¥39.00
品相
全新
上书时间2024-02-27
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商品描述:
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【书 名】 一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析
【书 号】 9787302589235
【出 版 社】 清华大学出版社
【作 者】 张晶威
【出版日期】 2022-01-01
【定 价】 39.00元
【内容简介】
《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍,通过对电子工程设计中的实际故障案例分析,帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案,内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。
《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书,也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书。
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