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刘东平 著 / 科学出版社 / 2010-09 / 平装
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上书时间2023-07-15
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材料分析技术
本书编者依照材料研究方法的基本原理,介绍了组织形貌分析、晶体物相分析、成分和价键结构分析、分子结构分析等材料分析手段,每一类分析方法具有共同的原理。本著作对共同原理进行了深入的分析和介绍,并对其中的各种技术手段作了分析对比,便于学生理解基本原理的本质。从每一类分析方法中精选最常规的分析手段,进行重点介绍,并采用大量典型研究成果作为范例,有利于读者对分析方法的掌握和实际运用。
前言第一章绪论第二章接触角在表面分析中的应用2.1引言2.2接触角测量2.2.1静态和动态静滴法2.2.2Wilhelmy平板法2.2.3封闭气泡法2.2.4毛细管上升法2.2.5倾斜基底法2.3均匀固体表面能的确定2.3.1表面张力组成2.3.2物态方程2.4研究实例2.4.1福克斯(Fowkes)2.4.2无定形碳的表面能的研究实例2.5小结参考文献第三章x射线光电子能谱和俄歇电子能谱3.1绪论3.2原子模型和原子的电子结构3.2.1能级3.2.2自旋一轨道劈裂3.2.3平均自由程3.3XPS和AES工作原理3.3.1光致电离3.3.2俄歇电子的产生3.3.3背景消除3.3.4XPS的化学位移现象3.3.5定量分析3.3.6线形3.3.7深度分布3.4仪器设备3.4.1真空系统3.4.2X射线源3.4.3单色仪3.4.4电子束的产生3.4.5分析器3.4.6电子探测器3.4.7通道式电子倍增器3.4.8多通道板3.4.9样品3.4.10附件3.5XPS技术的常规缺陷3.5.1定量精度3.5.2分析时间3.5.3探测极限3.5.4分析区域限制3.5.5样品尺寸限制3.5.6检测造成的样品畸变3.5.7俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)和能谱仪(EDS)的比较3.6XPS应用及实例分析3.6.1掺杂效应的测定3.6.2化学反应的检测3.6.3化学共价性的检测3.6.4深度分析3.6.5谱峰重叠问题3.6.6检测薄膜组成3.7AES的应用3.7.1材料表面元素的识别3.7.2元素浓度和化学计量的检测3.7.3强度与时间关系曲线3.7.4化学位移3.7.5线形变化3.7.6深度分析3.8总结参考文献第四章扫描隧道显微镜和原子力显微镜4.1引言4.2工作原理4.2.1扫描隧道显微镜4.2.2原子力显微镜4.3仪器4.3.1针尖和微悬臂4.3.2压电扫描器4.3.3隔振4.3.4分辨率4.4操作模式4.4.1扫描隧道显微镜4.4.2原子力显微镜4.5STM与AFM的差异4.6应用4.6.1STM研究4.6.2AFM研究参考文献第五章x射线衍射5.1X射线的特性与产生5.2晶面和布拉格(Bragg)定律5.3粉末衍射法5.4薄膜衍射法5.5结构测量5.6掠射角X射线衍射法参考文献第六章透射电子显微镜6.1透射电子显微镜基础6.2倒易晶格6.3样本制备6.4明场像和暗场像6.5电子能量损失能谱参考文献第七章扫描电子显微镜7.1扫描电子显微镜介绍7.1.1历史背景7.1.2扫描电子显微镜原理7.2电子束与样品的相互作用7.2.1背散射电子7.2.2二次电子7.2.3特征x射线和俄歇电子7.3扫描电子显微镜操作参数7.3.1概论7.3.2扫描电子显微镜特性7.3.3扫描电子显微镜的操作参数7.4应用7.4.1扫描电子显微镜在合成金刚石薄膜中的应用7.4.2扫描电子显微镜在电子设备中的应用7.4.3扫描电子显微镜在合成SiC涂层上的应用7.4.4金刚石涂层的wC-Co衬底的扫描电子显微镜分析参考文献第八章色谱分析8.1引言8.2.色谱法基本原理8.2.1色谱法的分类8.2.2分离模式和机制8.2.3分配和保留时间的基本原理8.3离子交换色谱法8.3.1影响离子交换色谱分离的因素8.3.2蛋白质分离8.4凝胶渗透色谱法8.4.1分子和分子量分布8.4.2凝胶渗透色谱的操作8.4.3聚合物标准物和校正曲线8.4.4样品的制备8.4.5凝胶渗透色谱应用于水溶性的聚合物第九章红外光谱及紫外线-可见光谱第十章宏观和微观热分析第十一章激光共焦荧光显微镜英汉词汇对照
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开播时间:09月02日 10:30