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SystemVerilog数字集成电路功能验证

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王旭 / 人民邮电出版社 / 2023-09 / 其他

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定价￥79.80

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图书 > 教材教辅考试 > 教材 > 大学教材 > 工程技术
SystemVerilog数字集成电路功能验证
作者: 王旭

出版社: 人民邮电出版社

出版时间: 2023-09

版次: 1

ISBN: 9787115614056

定价: 79.80

装帧: 其他

开本: 其他

纸张: 胶版纸

页数: 316页

字数: 497千字
内容简介：

本书讲解了 SystemVerilog 的基本语法和工作原理，同时结合了 UVM 验证方法学中的验证技术知识。讲述的内容主要包括：基本数据类型、接口、类、随机化、约束、进程同步、功能覆盖和 DPI 技术。书中使用了约 270 个完整实例，详细说明了每个知识点在实际项目中的应用。最后使用学过的验证技术搭建一个基于SystemVerilog 的简单验证平台。书中还介绍了 UVM 中的一些关键技术，主要包括：继承和派生，拷贝函数、单例类、测试登记表、代理类和工厂机制。为接下来系统学习 UVM 验证方法学打下坚实的基础。

作者简介：

王旭，从事数字集成电路方面的教学和研发，目前在学校主要讲述集成电路验证的课程、在企业作为兼职顾问，负责为企业研发的芯片指定验证方案、验证计划。

目录：

:
前言

第1章验证导论

1.1芯片设计流程

1.2功能验证与测试平台

1.3验证流程

1.4验证语言和验证方法学

1.5定向测试和受约束随机测试

1.6层次化测试平台

1.7层次化测试平台的执行

1.8练习题

第2章测试平台和数据类型

2.1测试平台

2.1.1被测设计

2.1.2测试模块

2.1.3测试平台项层模块

2.2基本数据类型

……

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