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肖明清 著 / 国防工业出版社 / 2012-08 / 平装
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上书时间2021-08-16
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自动测试概论
《自动测试概论》内容既包括自动测试的基本概念、发展历程、自动测试系统的组成、自动测试系统的评价指标及基于单片机的自动测试系统等自动测试领域的基本知识,也包括测试性设计技术、合成仪器技术、并行测试技术、LXI总线技术、全寿命测试信息框架、预测与健康管理、便携式维修辅助技术及下一代自动测试系统等自动测试领域的前沿热点问题。《自动测试概论》可供自动测试领域研究人员使用,也可作为高等院校相关专业的教师和研究生进行有关课题研究或课程学习的参考书。
第1章绪论1.1自动测试的基本概念1.1.1自动测试的定义1.1.2自动测试的特点1.1.3几个有关概念1.2自动测试的发展历程1.2.1专用自动测试系统1.2.2基于GPIB总线的积木式自动测试系统1.2.3基于VxI总线的模块化自动测试系统1.2.4基于LxI总线的网络化自动测试系统1.3自动测试系统的组成1.3.1结构组成1.3.2元素组成1.4自动测试系统的评价指标1.4.1测试对象1.4.2主要功能1.4.3工作方式1.4.4适应环境1.4.5故障检测率1.4.6故障隔离率1.4.7虚警率1.4.8故障检测时间1.4.9故障隔离时问1.4.10连续工作时间1.4.11可靠性1.4.12维修性1.4.13测试性1.4.14安全性1.4.15保障性1.4.16电磁兼容性1.4.17可扩展性参考文献第2章基于单片机的自动测试系统2.1基本硬件组成2.1.1单片机及单片机最小系统2.1.2多路开关2.1.3A/D转换器2.1.4D/A转换器2.1.5键盘2.1.6传感器2.1.7加载电源2.2信号调理、数据采集与输入显示2.2.1信号调理2.2.2数据采集2.2.3输入与显示2.3基于单片机的自动测试的实现2.3.1基于单片机的自动测试系统的需求分析2.3.2基于单片机的自动测试系统的硬件实现2.3.3基于单片机的自动测试系统的软件实现参考文献第3章测试性设计技术3.1测试性的定义3.1.1测试性要素3.1.2测试性指标3.2测试性的研究及发展3.2.1国外研究发展情况第4章合成仪器技术第5章并行测试技术第6章LXI总线技术第7章全寿命测试信息框架第8章预测与健康管理技术第9章便携式维修辅助技术第10章下一代自动测试系统
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开播时间:09月02日 10:30